Beratung Rasterelektronenmikroskopie
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Dienstleister strucTEM
Artikel Nr. 2017113002

Beratung Rasterelektronenmikroskopie

Telefonische Beratung zum Thema Rasterelektronenmikroskopie

  • Verfahren
  • Möglichkeiten
  • Optimale Vergrößerung
  • Bildverarbeitung

Bitte geben Sie Ihre Telefonnummer bei der Bestellung an, und beschreiben sie in der Rubrik "Bemerkung" kurz Ihre Probe & Fragestellung, damit wir uns optimal auf die Beratung vorbereiten können.

Bildbeispiele: Faserbruch, Bestandteil Nahrungsergänzung, Werkstoff-Querschnitt

 

Rasterelektronenmikroskopie

- Die Abbildung entsteht im Elektronenmikroskop (EM) durch die Wechselwirkung von Elektronen mit dem Objekt.
- Beim Rasterelektronenmikroskop (REM) wird der Elektronenstrahl dabei über das abzubildende Objekt gerastert.
- Charakteristisch sind Abbildungen von Oberflächen mit hoher Schärfentiefe.
- Übliche Auflösungen: 1-30nm (je nach Instrument). Das Limit liegt derzeit bei ca. 0.4 nm.
- Übliche Vergrößerungen: 10 - 300.000x
 

Typische Optionen:

- Detektion von Rückstreuelektronen oder Sekundärelektronen
- Chemische Elementanalyse mittels EDX (Energiedispersive Röntgenspektroskopie)
- Oberflächendarstellungen

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